Новости науки "Русского переплета" Rambler's Top100
Портал | Содержание | О нас | Пишите | Новости | Книжная лавка | Голосование | Топ-лист | Регистрация | Дискуссия
Лучшие молодые
ученые России

Подписаться на новости

АВТОРСКИЕ НАУЧНЫЕ ОБОЗРЕНИЯ

"Физические явления на небесах" | "Terra & Comp" (Геология и компьютеры) | "Неизбежность странного микромира"| "Научно-популярное ревю"| "Биология и жизнь" | Теорфизика для малышей
Семинары - Конференции - Симпозиумы - Конкурсы

НАУКА В "РУССКОМ ПЕРЕПЛЕТЕ"
Проект поддержан Международной Соросовской Программой образования в области точных наук.
Новости из мира науки и техники
The Best of Russian Science and Technology
Страницу курирует проф. В.М.Липунов
"Русский переплет" зарегистрирован как СМИ. Свидетельство о регистрации в Министерстве печати РФ: Эл. #77-4362 от
5 февраля 2001 года. При полном или частичном использовании
материалов ссылка на www.pereplet.ru обязательна.

Тип запроса: "И" "Или"

14.11.2019
14:19

Электронный 4D-микроскоп демонстрирует психоделические картины мира атомов

    Ученые из Национальной лаборатории Лоуренса Беркли (США) опубликовали удивительные изображения микроструктуры вещества, полученные при помощи технологии 4D-STEM. В ее основе лежит работа электронного микроскопа нового щадящего типа, воздействие которого не приводит к разрушению изучаемого материала. Это прорыв в науке, который открывает сюрреалистичные картины микромира.

    Применение электронных микроскопов для изучения вещества на атомном уровне имеет принципиальное ограничение – так можно исследовать только вещества с прочной атомарной решеткой. При использовании мягких, податливых материалов возникает риск их разрушения электронными лучами, поэтому прежде ученые были вынуждены применять для этого рентгеновские микроскопы. Открытие американских физиков может все изменить.

    В одном из исследований ученые применили 4D-STEM для анализа металлического стекла с непредсказуемой структурой. Это позволило выявить в ней слабые точки, воздействие на которые привело бы к быстрому разрушению материала. В другом опыте при помощи 4D-STEM были изучены изменения в структуре полупроводника до и после внедрения технологической добавки, меняющей его эксплуатационные свойства.

    По словам авторов разработки, 4D-STEM позволит заглянуть вглубь самых разных веществ. И составить молекулярные, а затем и атомарные карты даже тех материалов, которые слишком чувствительны к внешнему воздействию, что мешало изучать их ранее.

    По информации https://www.techcult.ru/science/7555-4d-mikroskop-demonstriruet-kartiny-mira-atomov

    Обозрение "Terra & Comp".

Помощь корреспонденту
Кнопка куратора
Добавить новость
Добавить новости
НАУКА В "РУССКОМ ПЕРЕПЛЕТЕ"

Если Вы хотите стать нашим корреспондентом напишите lipunov@sai.msu.ru

 

© 1999, 2000 "Русский переплет"
Дизайн - Алексей Комаров

Rambler's Top100